会议论文

已选条件：
× 7th Brazilian Congress on Metrolog
× Security mechanism

全选【符合条件的数据共：1条】

1 Reliable data acquisition for inspection systems [会议论文]

作者:Silva, V.P.^1;Silva, D.S.^1;Boccardo, D.R.^1;等

关键词:Automated process;Inspection system;...

会议举办机构:Inmetro-National Institute of Metrology Quality and Technology, Rio de Janeiro, Brazil^1

会议时间:

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摘要

京公网安备340104078870146号 878987797 028-85220240

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